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臺式x射線吸收譜儀集成了緊湊型高亮度X射線源與高分辨率硅漂移探測器，將XAS實(shí)驗(yàn)從大型同步輻射裝置“搬入”普通實(shí)驗(yàn)室，實(shí)現(xiàn)了原位、快速、低成本的材料表征。

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

擴(kuò)展x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線精細(xì)結(jié)構(gòu)譜是一種通過分析材料對X射線的吸收邊附近及高能區(qū)的精細(xì)振蕩，揭示目標(biāo)原子局域結(jié)構(gòu)與化學(xué)環(huán)境的高精度表征技術(shù)。其核心分為??X射線近邊吸收譜??和??擴(kuò)展邊精細(xì)結(jié)構(gòu)。

臺式XAFS(x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀)??是一種實(shí)驗(yàn)室級小型化設(shè)備，能夠在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）的測量與分析。其核心目標(biāo)是通過緊湊設(shè)計和高集成度技術(shù)，將傳統(tǒng)依賴同步輻射光源的X...

衍射光柵是一種由周期性排列的狹縫或凹槽構(gòu)成的光學(xué)器件，基于??多光束干涉與衍射原理??，將入射光按波長精確分離，形成清晰的光譜。

雙PMT探測器是一種使用兩個光電倍增管作為探測元件的裝置。PMT是一種真空電子器件，具有高靈敏度和高增益的特點(diǎn)。當(dāng)光陰極面受到光照后，由于光電效應(yīng)會釋放出光電子，這些光電子在倍增級中實(shí)現(xiàn)連續(xù)的倍增，從...

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀XANES主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線近邊吸收譜作為X射線吸收光譜的核心組成部分，是研究材料局域電子結(jié)構(gòu)、化學(xué)態(tài)及配位環(huán)境的強(qiáng)有力工具，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計提供直接依據(jù)。

配位結(jié)構(gòu)表征是化學(xué)領(lǐng)域中用于描述和定義配位化合物空間結(jié)構(gòu)和特性的重要手段。它涉及對配位物的空間排列方式、中心原子與配位體之間的相互作用以及整體穩(wěn)定性的詳細(xì)分析。